На главную страницу
О журнале План выхода Подписка Реклама Контакты и реквизиты English На главную страницу Карта сайта Поиск по сайту Обратная связь
Ваша корзина:
Товаров: 0
Сумма: 0.00 руб.

Раздел покупателя:
Не зарегистрирован


Каталог



Способы оплаты | Условия возврата товара

Интернет-магазин  /  Каталог

Основы специальных исследований

Основы специальных исследований


Тип CD : Информационно-методическое пособие
Носитель : один компакт-диск
В стоимость входит : Доставка заказной бандеролью
НДС : Не облагается
Цена: 4,830.00 руб.
Кол-во:   шт.    → В корзину   |   → Купить

В пособии последовательно изложены особенности всех типов специальных исследований (СИ), причем под данным термином подразумеваются и собственно СИ, и проведение инструментального контроля на ОИ. Рассмотрены и предложены варианты выполнения измерений, которые недостаточно корректно изложены или упущены в действующих «Методиках...». Особенное внимание уделено вопросам метрологии в тематике СИ как в законодательном, так и в практическом плане. Применительно к каждому виду измерений сформулированы задачи измерений, показаны основные источники неопределенностей результатов и основные методы их снижения. Наряду с общими приемами измерений приведены и конкретные рекомендации.

Изложенный материал предназначен прежде всего для специалистов аттестационных центров, выполняющих испытания при аттестации объектов информатизации на степень защищенности от утечки информации по техническим каналам. Руководителям организаций-лицензиатов ФСТЭК России изложенное здесь позволит объективно оценить и спроектировать затраты как на материально-техническое обеспечение, так и на подготовку необходимых кадров.






ООО «Издательский Дом «Афина» © XXI. Все права защищены
Rambler's Top100
Работает на: Amiro CMS